Caractérisation microstructurale des matériaux / Claude Esnouf 

Public ISBD Titre : Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude Esnouf Editeur : Lausanne : PPUR Année de publication : 2011 Collection : Metis LyonTech Importance : 579 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-884-5 Note générale : Bibliogr. en fin de chapitres. Index. Langues : Français (fre) Mots-clés : Matériaux;Microstructure;Caractérisation microstructurale;Cristallographie;Rayon X;Emission électronique;Rayonnement corpusculaire;Diffraction;Spectroscopie Résumé : Présentation pédagogique et exhaustive de l'ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques. Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf . - Lausanne : PPUR, 2011 . - 579 p. : ill. ; 24 cm. - (Metis LyonTech) . ISBN : 978-2-88074-884-5 Bibliogr. en fin de chapitres. Index. Langues : Français (fre) Mots-clés : Matériaux;Microstructure;Caractérisation microstructurale;Cristallographie;Rayon X;Emission électronique;Rayonnement corpusculaire;Diffraction;Spectroscopie Résumé : Présentation pédagogique et exhaustive de l'ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques.

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Caractérisation microstructurale des matériaux / Claude Esnouf 

Public ISBD Titre : Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude Esnouf Editeur : Lausanne : PPUR Année de publication : 2011 Collection : Metis LyonTech Importance : 579 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-884-5 Note générale : Bibliogr. en fin de chapitres. Index. Langues : Français (fre) Mots-clés : Microstructure (physique);Rayons X;Cristallographie Résumé : Présentation pédagogique et exhaustive de l'ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matérieux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques. Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf . - Lausanne : PPUR, 2011 . - 579 p. : ill. ; 24 cm. - (Metis LyonTech) . ISBN : 978-2-88074-884-5 Bibliogr. en fin de chapitres. Index. Langues : Français (fre) Mots-clés : Microstructure (physique);Rayons X;Cristallographie Résumé : Présentation pédagogique et exhaustive de l'ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matérieux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques.

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