Bibliothèque de l'Ecole Nationale Supérieure des Travaux Publics - Francis Jeanson "BENSTP-FJ"
Collection Traité EGEM
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Interroger des sources externesContraintes mécaniques en micro, nano et optoélectronique
Titre : Contraintes mécaniques en micro, nano et optoélectronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Mireille Mouis, Metteur en scène, réalisateur Editeur : Paris : Hermès science publ. Année de publication : 2006 Autre Editeur : Lavoisier Collection : Traité EGEM Importance : 448 p. Présentation : ill. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1308-1 Note générale : Bibliogr. en fin de chapitres. Index. Langues : Français (fre) Mots-clés : Electronique;Optoélectronique;Microélectronique;Elasticité;Cristaux;Dispositifs optoélectroniques;Semiconducteurs;Contraintes mécaniques;Technologie silicium;Elasticité des cristaux;Thermodynamique des systèmes contraints;Croissance cristalline;Relaxation élastique des contraintes;Endommagement des films minces;Propriétés électroniques des semiconducteurs;Propriétés optiques des semiconducteurs Résumé : Sommaire : L'importance des contraintes en microélectronique. Théorie de l'élasticité des cristaux. Thermodynamique des systèmes contraints. Description élastique d'une surface. Rôle des contraintes mécaniques dans les technologies silicium. Croissance cristalline et génération de contraintes. Relaxation élastique des contraintes. Relaxation plastique des couches métalliques par dislocations et défauts étendus. Phénomènes d'endommagement des films minces : des structures de cloquage aux propriétés mécaniques locales. Exploitation des contraintes dans les structures à base de semi-conducteurs. Apports et limites d'une approche atomistique de la croissance hétéro-épitaxique. Utilisation des éléments finis pour l'analyse des contraintes. Analyse des contraintes et déformations de films minces par diffraction des rayons X et mesure de courbure. Influence des contraintes sur les propriétés électroniques et optiques des semi-conducteurs. Index Contraintes mécaniques en micro, nano et optoélectronique [texte imprimé] / Mireille Mouis, Metteur en scène, réalisateur . - Paris : Hermès science publ. : Lavoisier, 2006 . - 448 p. : ill. ; 25 cm. - (Traité EGEM) .
ISBN : 978-2-7462-1308-1
Bibliogr. en fin de chapitres. Index.
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Electronique;Optoélectronique;Microélectronique;Elasticité;Cristaux;Dispositifs optoélectroniques;Semiconducteurs;Contraintes mécaniques;Technologie silicium;Elasticité des cristaux;Thermodynamique des systèmes contraints;Croissance cristalline;Relaxation élastique des contraintes;Endommagement des films minces;Propriétés électroniques des semiconducteurs;Propriétés optiques des semiconducteurs Résumé : Sommaire : L'importance des contraintes en microélectronique. Théorie de l'élasticité des cristaux. Thermodynamique des systèmes contraints. Description élastique d'une surface. Rôle des contraintes mécaniques dans les technologies silicium. Croissance cristalline et génération de contraintes. Relaxation élastique des contraintes. Relaxation plastique des couches métalliques par dislocations et défauts étendus. Phénomènes d'endommagement des films minces : des structures de cloquage aux propriétés mécaniques locales. Exploitation des contraintes dans les structures à base de semi-conducteurs. Apports et limites d'une approche atomistique de la croissance hétéro-épitaxique. Utilisation des éléments finis pour l'analyse des contraintes. Analyse des contraintes et déformations de films minces par diffraction des rayons X et mesure de courbure. Influence des contraintes sur les propriétés électroniques et optiques des semi-conducteurs. Index Exemplaires(0)
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Titre : Matériaux piézoélectriques intégrés sur silicium Type de document : texte imprimé Auteurs : Emmanuel Defay, Metteur en scène, réalisateur Editeur : Paris : Hermès science publ. Année de publication : 2010 Autre Editeur : Lavoisier Collection : Traité EGEM Importance : 421 p. Présentation : ill., fig., graph. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-2991-4 Note générale : Bibliogr. en fin de chapitres. Index. Langues : Français (fre) Mots-clés : Matériaux piézoélectriques;Diélectriques;Résonateurs électriques Résumé : Sommaire : Introduction générale. 1. Diélectrique, piézoélectrique, pyroélectrique et ferroélectrique. 2. L'étude thermodynamique : une approche structurante. 3. Modélisation thermodynamique de la transition de phase ferroélectrique-paraélectrique. 4. Formalisme mécanique. 5. Formalisme diélectrique. 6. Formalisme piézoélectrique. 7. Formalisme acoustique. 8. Formalisme électrostrictif. 9. Caractérisation électrique. 10. Résonateurs et filtres piézoélectriques. 11. High overtone Bulk Acoustic Resonator (HBAR). 12. Résonateurs électrostrictifs. 13. Transducteurs piézoélectriques en couches minces. Index. Matériaux piézoélectriques intégrés sur silicium [texte imprimé] / Emmanuel Defay, Metteur en scène, réalisateur . - Paris : Hermès science publ. : Lavoisier, 2010 . - 421 p. : ill., fig., graph. ; 24 cm. - (Traité EGEM) .
ISBN : 978-2-7462-2991-4
Bibliogr. en fin de chapitres. Index.
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Matériaux piézoélectriques;Diélectriques;Résonateurs électriques Résumé : Sommaire : Introduction générale. 1. Diélectrique, piézoélectrique, pyroélectrique et ferroélectrique. 2. L'étude thermodynamique : une approche structurante. 3. Modélisation thermodynamique de la transition de phase ferroélectrique-paraélectrique. 4. Formalisme mécanique. 5. Formalisme diélectrique. 6. Formalisme piézoélectrique. 7. Formalisme acoustique. 8. Formalisme électrostrictif. 9. Caractérisation électrique. 10. Résonateurs et filtres piézoélectriques. 11. High overtone Bulk Acoustic Resonator (HBAR). 12. Résonateurs électrostrictifs. 13. Transducteurs piézoélectriques en couches minces. Index. Exemplaires(0)
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